致茂Chroma 7925TO-CAN 封裝外觀檢測系統

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致茂Chroma 7925TO-CAN 封裝外觀檢測系統

主要特色：

• 可檢測TO-CAN 封裝金屬外蓋與透鏡之刮傷、破裂、異物及膠合不良等缺陷
• 具備自動對焦功能，可克服載盤制造公差內的高度差異
• 檢測完成后可依設定規格挑揀不良品
• 提供比人工目檢更佳的可靠度及重復性
• 每小時蕞高可檢測3600顆待測物
• 自動化上下料盤，減少人員上下料時間
• 提供完整的檢測資料，包含檢測數據及缺陷影像以供工程分析

Chroma 7925為自動化TO-CAN封裝外觀檢測系 統，可提供封裝前后的透鏡與金屬外蓋缺陷進行 檢測。透過高解析度之鏡頭以及多樣的光源配 置，可檢出30um以上的透鏡刮傷及異物。由于 載盤可能存在制造公差導致待測物對焦距離均不 相同，Chroma 7925配置了自動對焦系統，可自 動計算待測物之對焦距離并進行補償，以確保可 以取得清楚的檢測影像。

使用者可以自由設定良品與不良品之規則及缺陷 編碼，并依據編碼進行挑揀。從上片、檢測、挑 揀及下片均為全自動化流程，大幅降低人員操作 及制程管理發生錯誤的機會。檢測完成后，工程 師可以取得詳細的缺陷量化數據，以及儲存缺陷 影像以利于再判讀。相較于人工目檢無法保留檢 測資料，使用Chroma 7925所取得之資料，將有 助于分析制程問題，并進一步提升產品良率。

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致茂Chroma 7925TO-CAN 封裝外觀檢測系統